名 称：高分辨场发射透射电子显微镜（High resolution field emission transmission electron microscope）型 号：JEM-2100F厂 商：日本电子株式会社产 地：日本地 点：科研楼北楼114室负责人：石志祥 (：0310-3967708
仪器简介 |
JEM-2100F应用广泛用材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。它不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 |
主要技术指标 |
1加速电压：80，100，120，160，200 kV； 2点分辨率：0.19nm；X线分辨率：0.14nm；STEM分辨率：0.20nm； 3放大倍数：50–1500K； 4样品最大倾角：±25°。 |
送样要求 |
1样品不得具有磁性、放射性、毒性和腐蚀性； 2样品须经充分干燥并具有一定的稳定性，须确保当受到电子束照射时不产生挥发性、腐蚀性物质； 3须提供样品的名称、分子结构和晶体结构等信息； 4送样者需明确测试目的，即期望获得什么信息。 |
